OBLF VeOS
- Решает широкий круг практических задач промышленных лабораторий металлургических предприятий, включая производителей чистых металлов.
- Стационарный эмиссионный спектрометр, основанный на полупроводниковой сенсорной системе. Бескомпромиссная конструкция, сочетающая высокие аналитические показатели с невероятной гибкостью CCD/CMOS детекторов.
- Обеспечивает точный анализ коротковолновых элементов, напр. сера, фосфор, азот, низкие концентрации углерода в стали, фосфор в алюминии и т.д.
Достоинства:
- Всеобъемлющая мультиматричная система без ограничений в выборе элементов для анализа
- Выбор любой спектральной линии пользователем в диапазоне от 130 до 780 нм.
- Одновременное определение всех элементов в пробе
- Анализ различных основ (Fe, Al, Ni, Ti, Cu, Zn, Co, Mg, Pb, Sn)
- Возможность комбинирования разных основ на одном приборе
- Анализ N, C, S, P в металлах
- Удовлетворяет всем аналитическим задачам
- Легко добавляемые аналитические линии
- Новейшая, специально разработанная технология детекторов
- Точное определение низких пределов содержания N и C (технология ULC)
- Превосходные эксплуатационные качества благодаря пределу обнаружения, точности и стабильности
- Автоматическое профилирование и коррекция дрейфа
- Надёжная конструкция для работы в жестких производственных условиях
Детекторы
Конструкция светочувствительных детекторов CMOS специально приспособлена для требований эмиссионной спектрометрии. Они отличаются большой светочувствительной поверхностью, которая в 100 раз больше, чем в сопоставимых системах.
- В VeOS применяются высококачественные эксклюзивные твердотельные детекторы, разработанные специально для эмиссионной спектроскопии
- Усовершенствована чувствительность сенсоров:
большая площадь пиксела: узкие и высокие пикселы (для повышения разрешения и чувствительности)
отсутствие органических покрытий для повышения чувствительности в УФ- диапазоне (как результат- долговременная стабильность) - Истинная технология компенсации шума CDS (двойное сэмплирование)
- Улучшена чувствительность в УФ-области без органического покрытия
- Избирательная чувствительность для каждого сенсора
- 16 битное АЦП преобразование для измерения в большом динамическом диапазоне
- Быстрое считывание за 2 мс
- Отсутствие блюмингового эффекта (эффекта «распускания») благодаря специальной конструкции транзистора
- Охлаждение детекторов для уменьшения темнового шума и улучшения стабильности сигнала
- Технология объединения сигналов с пикселов для повышения аналогового сигнала (только для CMOS)
Необслуживаемый цифровой генератор GDS III
- Обеспечивает высочайшую степень воспроизводимости по всем параметрам возбуждения
- Улучшает точность и пределы обнаружения концентраций элементов
- Снижает межэлементные влияния и влияние фона
- Параметры возбуждения оптимизированы
- Программируемая частота разряда 1 Гц- 1 кГц
Искровой штатив
Конструкция штатива позволяет получать оптимальный световой поток для элементов, возбужденных в различных областях плазмы, что крайне важно для определения следовых концентраций
- Оптимальный участок плазмы искры
- Запатентованная импульсная продувка аргоном
- Термостабилизация штатива
- Простой доступ для обслуживания
Считывающая и обрабатывающая электроника полностью помещены в термостабилизированную вакуумную камеру.
Программное обеспечение
Базируется на концепции OBLF, сочетающей использование микропроцессоров для контроля работы отдельных устройств спектрометра и регистрации аналитических сигналов, с центральным управляющим ПК и аналитическим программным обеспечением на базе платформы Windows™. Управляется с помощью системы меню, оптимизировано для быстрой работы. Экранный интерфейс оператора на русском языке.
Возможности
- Обработка данных спектра
различные режимы сглаживания формы кривой спектральных линий (FFT, spline, Savitzky-Golay)
«вычитание» фона для каждой линии
постоянная проверка профиля линии
использование нескольких линий сравнения
«Анализатор спектра» (позволяет увидеть на экране весь спектр, параметры канала)
- Технологии компенсации фона
- Расчет интенсивностей канала (n-Pixel-Integral, Gauss area, Peakheight)
- Виртуальная выходная щель шириной 3 – 100 pm
- Линейная интерполяция для «улучшения» спектрального разрешения
- Контроль профиля
- Контроль темнового тока
- Автоматическое профилирование с помощью ПО
Результаты анализов и прочие данные мы с радостью предоставим по запросу.
Сравните с конкурентами………… почувствуйте разницу!