PANalytical CubiX XRF

Рентгеновский спектрометр PANalytical Cubix XRF параллельного типа для анализа химического состава от F до U с верхним расположением рентгеновской трубки.

Разработан для экспресс-анализа, технологического контроля процессов производства различной продукции. 

Это параллельный (одновременный) вакуумный рентгенофлуоресцентный спектрометр с дисперсией по длине волны с устанавливаемым сканирующим каналом - гониометром (от Ti до U).

• Может включать до 14 фиксированных каналов
• Компактное расположение, занимает менее 1 м² площади помещения
• Не требует внешней системы охлаждения трубки
• Диапазон определяемых элементов от F до U
• Пределы обнаружения элементов на уровне от долей ppm до 100 % в зависимости от определяемых элементов

Он воплощает собой одно из последних современных технологических решений компании PANalytical и хорошо зарекомендовал себя в отраслях промышленности, характеризующихся высокими объемами производства, технологические процессы которых нуждаются в постоянном контроле.

Разработан для рутинного анализа с высокой точностью и воспроизводимостью результатов главным образом в цементной и горнодобывающей промышленности, однако может использоваться и в других отраслях индустрии. 

Легко может быть подключен к автоматизированным системам анализа, промышленному дифрактометру CubiX³.

Рентгеновская трубка мощностью 200 Вт расположена в максимальной близости над образцом, что обеспечивает минимальные потери интенсивности (эффективность трубки на уровне мощности около 2.0 кВт) и исключает просыпание фрагментов плохо подготовленных проб в измерительную камеру - не требует системы защиты трубки от пыли.

Материал анода трубки - Sc, Cr и т.д. по желанию заказчика.

Для обеспечения дополнительной гибкости при повышенных требованиях к контролю качества продукции, в конфигурацию может быть добавлен программируемый гониометр (сканирующий канал) для количественного и полуколичественного анализа элементов от Sc до U взамен двух фиксированных каналов. Также гониометр может использоваться для сканирования фонового излучения отэлементов, определяемых фиксированными каналами - это значительно повышает чувствительность, снижает предел обнаружения.

  

загрузить информационный лист PANalytical-CubiX XRF Cement

Любую дополнительную информацию мы предоставим по запросу.

Пожалуйста, свяжитесь с нами mailto: info@nalkho.com, тел./факс +7 495 739 5586