OBLF QSN 750

Искровой вакуумный оптический эмиссионный спектрометр (ОЕ- спектрометр) с радиусом оптической системы 750 мм- может быть использован как одно- или много-матричный.  
QSN 750 имеет широкое поле применений не только при производстве металла в промышленном производстве, но и при испытании материалов в исследовательских институтах. Интегрирующая электроника и фотоэлектронные умножители, подобранные согласно спецификации заказчика, помещены в оптическую камеру, и таким образом защищаются от внешних воздействий. Температурная стабилизация оптики и импульсный цифровой генератор GDS гарантируют высокую степень воспроизводимости сигналов и аналитическое постоянство. Конструкция легко разбираемого самоочищающегося патентованного искрового штатива и входного окна оптической камеры позволяют пользователю обслуживать их без затруднений. Использованный аргон очищается фильтром.

В отличие от «меньшего брата» OBLF 1000, прибор может также использоваться и в автоматизированной системе. В таком случае спектрометр, работающий совместно с устройством пробоподготовки и роботом-рукой, оснащается автоматической системой очистки противоэлектрода. Результаты анализов передаются на соподчинённую компьютерную систему через сетевое соединение. Для обеспечения оптимума контроля качества через определённые интервалы времени спектрометр производит измерение контрольных образцов, подаваемых роботом. Ключ функционирования – постоянное отслеживание и, при необходимости, передача этой информации на другие системы.

При использовании мультиматричных систем для огромного числа аналитических задач может возникать большое число аналитических программ. Для таких сложных систем программное обеспечение спектрометра, называемое OBLFwin, предусматривает пронумерованные обособленные программы, всесторонне отвечающие потребностям заказчика. В дополнение существует автоматический выбор программы, упрощающий назначение правильной программы анализа. В зависимости от приложения,- какой материал определяется,- измеренные значения появляются на экране приблизительно через 16-30 секунд после начала процесса измерения и могут быть распечатаны, переданы по сети или обработаны позднее.

ХарактеристикаЗначение
Оптическая схема Пашена-Рунге750 мм
Разрешение дифракционной решётки2400 линий/мм
Обратная дисперсия для 1-го порядка0,55 нм/мм
Диапазон длин волн120-800 нм
Частота искрового разряда1 - 1000 Гц
Чистота аргона99,998 %
Расход аргона на один прожиг в Fe-матрицемакс. 2,4 л
Расход аргона во время ожиданиякаппилярный
Габариты прибора1040 х 900 х 1300 мм
Вес нетто550 кг

подробная инофрмация предоставляется по запросу

заполнить опросный лист по подбору прибора OBLF




Создание сайта — ИЕСА
Сайт оптимизирован для работы в браузерах