Nalkho Techno

Комплексные решения для лабораторий
+7 (499) 795 77 90 info AT nalkho DOT com Заказать бесплатный звонок

Полезная информация

Информационная страница создана для всех пользователей аналитического исследовательского оборудования для спектрального анализа: студентам, аспирантам, научным сотрудникам, специалистам лабораторий различных производств и т.д.

Рассмотрены теоретические основы методов оптико-эмиссионного, рентгенофлуоресцентного спектрального анализа, метода рентгеновской дифракции и основы металлографии.

   

Оптическая эмиссионная спектрометрия (или OE-спектрометрия - "Optical Emission Spectrometry") 

Рентгенофлуоресцентная спектрометрия (или XRF-спектрометрия - "X-Ray Fluorescence")

Рентгеновская дифрактометрия (или XRD - "X-Ray Diffraction")

Металлография