Полезная информация
Информационная страница создана для всех пользователей аналитического исследовательского оборудования для спектрального анализа: студентам, аспирантам, научным сотрудникам, специалистам лабораторий различных производств и т.д.
Рассмотрены теоретические основы методов оптико-эмиссионного, рентгенофлуоресцентного спектрального анализа, метода рентгеновской дифракции и основы металлографии.
Оптическая эмиссионная спектрометрия (или OE-спектрометрия - "Optical Emission Spectrometry")
Рентгенофлуоресцентная спектрометрия (или XRF-спектрометрия - "X-Ray Fluorescence")
Рентгеновская дифрактометрия (или XRD - "X-Ray Diffraction")
