Nalkho Techno

Комплексные решения для лабораторий
+7 (499) 795 77 90 info AT nalkho DOT com Заказать бесплатный звонок

PANalytical X'Pert³ MRD (XL)

mrd_g    

Уникальный рентгеновский дифрактометр модульной конструкции для научных исследований и промышленности  
X'Pert3 MRD (XL)
(Multi-Purpose Research Diffractometer).

В этой модели многоцелевого дифрактометра исследовательского класса используется горизонтальный гониометр высокого разрешения.

Модульная конструкция

Размещение оптических модулей спроектировано на уникальной разработке PANalytical - платформе PreFIX (Pre-aligned Fast Interchangeable X-ray modules) с жесткой стабилизацией позиции.

Не имеющая аналогов платформа PreFIX с использованием технологий прецизионной механики позволяет производить смену оптических модулей максимально быстро (за время не более 20-50 сек) и без дополнительной юстировки. Таким образом, в одном дифрактометре обеспечивается возможность без труда проводить измерения порошков, моно- и поликристаллов, полупроводников, пленок, поверхностей и т.д. последовательно, просто заменив соответствующую приставку без последующей утомительной юстировки. 

Нет необходимости покупать новую систему для новой задачи - необходимо просто закупить соответствующие модули (приставки) и установить на платформу PreFIX. Вы получаете фактически "новый" прибор, не имеющий ограничений относительно полноты и/или чувствительности анализа!

Возможна установка температурной камеры также в виде модульной приставки для PreFIX. 

Области применения:

  • дифрактометрия высокого разрешения
  • анализ текстуры и напряжений
  • анализ кривых качания, оценка совершенства упорядоченных структур
  • построение карт обратного пространства эпитаксиальных пленок и слоев
  • рефлектометрия
  • наноисследования, малоугловое рассеяние рентгеновских лучей SAXS (Small angle X-ray scattering)
  • анализ тонких и очень тонких нанопленок
  • фазовый анализ с высочайшей скоростью и точностью, метод Ритвельда
  • дифракция в плоскости (in-plane дифракция)
  • анализ монокристаллов и др.

Уникальные возможности:

  • система для измерений дифракции в плоскостях решетки, перпендикулярных типовой плоскости
  • extended-позиция - удлиненное плечо первичной оптики гониометра для получения максимального разрешения и интенсивности в параллельно-лучевой геометрии с рентгеновским параболическим зеркалом и любым из монохроматоров Бартеля
  • вторичная оптика для анализа тройных осей (анализатор), кривых качания, карт обратного пространства и т.п. - система для анализа с высочайшей разрешающей способностью полупроводников, эпитаксиальных высокоупорядоченных пленок, в т.ч. очень тонких

Специальная модель X'Pert3 MRD (XL) позволяет исследовать объекты большой площади, такие как полупроводниковые пластины диаметром до 300 мм. Устройства автоматической подачи образцов позволяют использовать дифрактометр для поточного анализа - экспресс-контроля производственных процессов, аттестации и сертификации продукции.

Краткое описание дифрактометров X'Pert PRO MRD:

  • вариант гониометра Θ-2Θ, горизонтальный, высокого разрешения
  • возможность установки рентгеновского зеркала и монохроматора высокого разрешения на расширенном плече первичной оптики
  • высокоточная система прямого оптического отслеживания позиции гониометра (DOPS)
  • фабричная калибровка оптических модулей и держателей образцов обеспечивает их смену без дополнительной подстройки
  • использование уникальных рентгеновских 2-фокусных трубок
  • применение быстродействующих детекторов PIXcel и PIXcel3D, а также классические детекторы

Рентгеновские трубки PANalytical собственного производства запатентованной конструкции не имеют аналогов в мире:

  • в одной трубке возможно использование различных фокусировок рентгеновского пучка - 2 выходных Ве-окна
  • возможность выполнять на одном дифрактометре анализ используя линейный фокус рентгеновской трубки, а также в точечном фокусе
  • время смены фокуса трубки, замена на трубку с другим анодом - не более 1-2 минут путем поворота трубки не нарушая юстировки, без отключения охлаждения
  • большой выбор анодов - Cr, Mn, Fe, Co, Cu, Mo, Ag, по выбору заказчика, оптимальны при использовании в геометрии Θ-, Θ-Θ
  • улучшенная изоляция из металлокерамики (патент), значительно продлевает жизненный цикл трубки

Революционная технология уникального детектора PIXcel:

  • твердотельный детектор 2-го поколения, разработанный для традиционных и специальных задач рентгеновской дифрактометрии
  • состоит из 65 000 чувствительных элементов (пикселей), размер каждого из которых составляет 55 x 55 мкм
  • все чувствительные элементы имеют индивидуальные циклы счетной загрузки, что обеспечивает динамический диапазон счета более 100 000 000 имп/сек для каждой линии пикселей
  • использование детектора PIXcel не требует установки аттенюатора, использование в комбинации с монохроматорами обеспечивает запись дифрактограмм с отношением пик/фон более 107

Программное обеспечение позволяет управлять всеми системами прибора и обладает максимальным набором функций для обработки данных, расчетов, построения графиков, карт и моделей. Набор пакетов программного обеспечения X'Pert Software обеспечивает выполнение всех возможных видов анализа и проведения исследований:

  • X'Pert Data Collector - программный модуль для управления дифрактометром, задания параметров измерений, сбора данных 
  • X'Pert HighScore и HighScore Plus - пакет программ для идентификации фаз в многофазных смесях с использованием современных алгоритмов, содержит дополнительные программы кристаллографического и фазового анализа с использованием метода Ритвельда
  • X'Pert Stress и Stress Plus - для анализа остаточных микро-макро напряжений в объемных образцах, поликристаллических покрытиях и напылениях
  • X'Pert Texture - анализ, расчет, визуализация ориентации кристаллитов в поликристаллических материалах, включая специальные 3D режимы графических отображения полюсных фигур и ориентации функции распределения
  • X'Pert Epitaxy и X'Pert SmoothFit - для анализа полупроводников, эпитаксиальных пленок, карт обратного пространства, кривых качания, с использованием симуляции и автоматической подгонки измеренных кривых;
  • X'Pert Reflectivity - программа для анализа толщины кристаллических и аморфных пленок, оценка качества поверхности
  • X'Pert Industry (включая X'Pert Data Collector) - пакет программ для промышленности, для проведения рутинных измерений и обработки данных
  • X'Pert Quantify - количественный фазовый анализ, измерение, обработка и вывод результатов, с использованием известных аналитических моделей

   

Любую дополнительную информацию мы предоставим по запросу.

Пожалуйста, свяжитесь с нами mailto: info@nalkho.com, тел./факс +7 495 739 5586


Здравствуйте!

Задайте Ваш вопрос сейчас и мы предоставим необходимую информацию по покупке интересующей Вас модели оборудования в самое ближайшее время.

Заполните, пожалуйста, форму:

Поле обязательно для заполнения
вида X (XXX) XXX-XX-XX
Поле обязательно для заполнения
не будет нигде опубликован
по оборудованию, цене, условиям поставки
Поле обязательно для заполнения


Поля со знаком (*) обязательны для заполнения