Nalkho Techno

Комплексные решения для лабораторий
+7 (499) 795 77 90 info AT nalkho DOT com Заказать бесплатный звонок

PANalytical Empyrean

 empyrean

Empyrean – уникальный рентгеновский дифрактометр с вертикально расположенным гониометром высокого разрешения модульной конструкции для научных исследований  и для аналитического контроля в промышленности .

Дифрактометр Empyrean – новейшая инновационная разработка PANalytical с cистемой полностью предварительно откалиброванных оптических модулей, способный решать все возможные на сегодняшний день задачи рентгеновской дифрактометрии.        

Это результат 50-летнего успешного опыта PANalytical - продолжение уникальной серии дифрактометров, сочетающий в себе все достижения давно зарекомендовавших себя порошковых дифрактометров X'Pert PRO MPD и исследовательских дифрактометров X'Pert PRO MRD.

Впервые в дифракционных исследованиях применена технология "томографического" сканирования образца, позволяющая "просвечивать" его в любой плоскости и отображать трехмерную проекцию внутренней структуры образца.       

Защитный корпус дифрактометра отвечает всем мировым требованиям радиационной безопасности (в соответствии с требованиями Vollschutz according to Röntgenverordnung 1987)

Модульная конструкция, платформа PreFIX

Как и в прежних моделях дифрактометров PANalytical размещение всех оптических модулей спроектировано на уникальной разработке PANalytical - платформе PreFIX (Pre-aligned Fast Interchangeable X-ray modules), где все модули предварительно откалиброваны на фабрике и не требуют юстировки.
Причем юстировка модулей не требуется и при их использовании на других системах Empyrean.

Платформа PreFIX позволяет производить смену всех без исключения оптических модулей (включая первичную и вторичную оптику) максимально быстро и без юстировки. Таким образом, в одном дифрактометре обеспечивается возможность  без труда проводить измерения порошков, кристаллов, текстуры, напряжений, пленок, поверхности и т.д. последовательно, просто заменив соответствующую приставку.

Нет необходимости приобретать новую систему для новой задачи - необходимо просто закупить соответствующие модули. Вы получаете фактически "новый" дифрактометр, не имеющий ограничений относительно полноты и/или чувствительности анализа.

Области применения 

О дин дифрактометр способен выполнять все задачи рентгеновской дифрактометрии:

  • Классический фазовый анализ с высочайшей скоростью и точностью детектирования 
  • Определение, уточнение параметров элементарной ячейки
  • Определение фаз по слоям
  • Микродифракция
  • Анализ текстуры, построение полюсных фигур
  • Определение напряжений и размера кристаллитов
  • Анализ тонких и очень тонких пленок, многослойных покрытий
  • Анализ эпитаксиальных пленок, высокоупорядоченных структур, анализ кривых качания, построение карт обратного пространства, оценка совершенства структур
  • Анализ монористаллов
  • Рефлектометрия, определение толщины и плотности слоев
  • Анализ наноразмерных порошков и материалов
  • Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей SAXS (Small angle X-ray scattering), анализ размерного разпределения наночастиц
  • Дифракция в плоскости (in-plane дифракция)
  • Проведение исследований в экстремальных условиях обработки
  • Определение фазовых переходов при изменении параметров кристаллической наноструктуры
  • Кластерный анализ
  • Томографическое сканирование, построение и отображение 3D-проекций внутренней структуры веществ (дефектоскопия)

Платформы для перемещения и вращения образцов

  • Многоцелевая консоль (1/4 "люльки") с возможностью программируемого перемещения образца по 5 осям (Chi-96 º , Phi-720 º , Z-12мм, X-54мм, Y-54мм), макс. диаметр образца 80 мм, высота 16 мм, макс.вес 0.5 кг
  • Компактная консоль (1/4 "люльки") с возможностью программируемого перемещения образца по 3 осям (Chi-96 º , Phi-720 º , Z -64мм ), макс. диаметр образца 140 мм, высота 64 мм , возможность проведения измерений "на просвет" (трансмиссии )
  • Автоматический спинер для вращения образца (в геометрии Брег-Брентано) и программируемого перемещения по оси Z с возможностью проведения измерений "на просвет"
  • Столик-держатель для негабаритных и тяжелых образцов, пластин, деталей с возможностью механического перемещения по оси Z 
  • Спинер для вращения образца для проведения компьютерной томографии

Краткое описание дифрактометра Empyrean

Дифрактометр имеет как классическую порошковую конфигурацию, так и специализированные модификации, используя огромное количество оптических модулей: параболическое и фокусирующее зеркала, монохроматоры Бартеля, гибридный монохроматор, монокапиллярная и поликапиллярная оптика, тройные оси, оптика для анализа кривых качания, фиксированные и программируемые щели, параллельно-пластинчатый коллиматор и т.д.). 

  • Вариант гониометр а: Θ-Θ, Θ-2Θ (система Альфа 1 с Johanson-монохроматором),  только ве ртикальный
  • Стандартный радиус гониометра 240 мм (возможно уменьшение радиуса),  угловой диапазон 360 ° без модулей, -111°<2Θ<168° в зависимости от модулей
  • Возможна установка различных температурных камер Anton Paar (от -193 ° С до 2200 ° С), создание вакуума/давления
  • Новейшая высокоточная патентованная система прямого оптического отслеживания позиции гониометра (DOPS-2) - это еще более точная система позиционирования оптических модулей и трубки, продолжение знаменитой серии гониометров PANalytical DOPS, воспроизводимость установки угла 0.0001°, 2Θ линейность ±0.004°, шаг сканирования от 0,0001
  • Фабричная калибровка всех оптических модулей и держателей образцов обеспечивает их смену без дополнительной подстройки
  • Использование уникальных рентгеновских трубок собственного производства с двумя выходными окнами
  • Применение быстродействующего детектора PIXcel3D

Рентгеновские трубки PANalytical собственного производства запатентованной конструкции не имеют аналогов в мире. В одной трубке возможно использование различных фокусировок рентгеновского пучка.

  • 2 выходных Ве-окна, улучшенная изоляция из керамики (патент), значительно продлевает жизненный цикл трубки
  • Большой выбор анодов - Cu, Cr, Mn, Fe, Co, Cu, Mo, Ag, по выбору заказчика, оптимальны при использовании в геометрии Θ-2Θ, Θ-Θ
  • Используя одну и ту же трубку, возможно проведение исследований используя линейный фокус и точечный фокус рентгеновской трубки
  • Время смены фокуса трубки, замена на трубку с другим анодом - менее 2 минут путем поворота трубки не нарушая юстировки, без отключения охлаждения

Детекторы

Используются как классические Xe-пропорциональные и сцинтилляционные детекторы, так и новейшие разработки PANalytical полупроводниковые детекторы X'Celerator, PIXcel и PIXcel3D.

Революционная технология уникального детектора PIXcel3D, разработан совместно с Европейской организацией ядерных исследований ЦЕРН (CERN):

  • твердотельный детектор 3-го поколения, разработанный для традиционных и специальных задач рентгеновской дифрактометрии;
  • состоит из 65 000 пикселей (256х256 пикселей), размер каждого пикселя 55 x 55 мкм;
  • каждый пиксель имеет индивидуальный цикл счетной загрузки, что обеспечивает огромный динамический диапазон счета более 100 000 000 имп/сек для каждой линии пикселей;
  • уровень шума менее 0.1 имп./сек для всего детектора;
  • применение детектора PIXcel3Dвозможно в комбинации со всеми оптическими модулями, для обеспечения высочайшего уровня интенсивности и получения отношения пик/фон более 107

Широчайшие возможности PIXcel3Dдля полного круга применений в 0D, 1D, 2D и 3D режимах:

    • точечный 0D режим позволяет работать как точечный детектор с высочайшими динамическими свойствами для применения при измерениях кривых качания, рефлектометрии и малоугловых исследованиях, регистрация и суммирование интенсивности в каждом пикселе;
    • линейный 1D режим представляет собой линейный детектор с суммированием интенсивности в ряд пикселей с высочайшими динамическими свойствами и минимальным размером, превосходящий по свойствам все остальные твердотельные детекторы;
    • двумерный 2D режим представляет собой детектор, покрывающий целую площадь детектирования излучения независимо в каждом пикселе, высочайшими динамическими свойствами и разрешением каждого пикселя благодаря функции рассеяния, примененной к каждому пикселю;
    • трехмерный 3D режим представляет собой систему компьютерной томографии с минимальным фоном и потерями импульсов, позволяющий сканировать образец с высоким динамическим шагом, получать томографическое изображение (3D-проекцию) с четкими границами, считывание пикселей производится независимо, а полученные двумерные изображения комбинируются.

Программное обеспечение позволяет управлять всеми системами прибора и обладает максимальным набором функций для обработки данных, расчетов, построени я графиков, карт и моделей. Набор пакетов программного обеспечения X'Pert Software обеспечивает выполнение всех возможных видов анализа и проведения исследований.

  • X'Pert Data Collector - программный модуль для управления дифрактометром, задания параметров измерений, сбора данных;
  • X'Pert Industry (включая X'Pert Data Collector) - пакет программ для промышленности, для проведения  рутинных измерений и обработки данных;
  • X'Pert Quantify - количественный фазовый анализ, измерение, обработка и вывод результатов, с использованием известных аналитических моделей;
  • X'Pert HighScore и HighScore Plus - полный пакет программ для идентификации и количественного определения фаз в многофазных смесях с использованием современных алгоритмов, содержит дополнительные программы кристаллографического и фазового анализа с использованием метода Ритвельда. Этот пакет является лидером для анализа фазового состава, структурного анализа, метода Ритвельда, определения и уточнения параметров элементарных ячеек. HighScore Plus содержит лучший на рынке алгоритм поиска по картотеке баз данных, что существенно облегчает и ускоряет анализ фазового состава. Поиск возможен на основании как отдельных пиков, так и на основании полнопрофильных данных с использованием различных поисковых алгоритмов. HighScore Plus позволяет работать не только с базой данных ICDD PDF -2, но и с другими базами данных, например, постоянно развивающейся системой со свободной лицензией COD (Crystallorgaphy Open Database);
  • X'Pert Stress и Stress Plus - для анализа остаточных микро-макро напряжений в объемных образцах, поликристаллических покрытиях и напылениях;
  • X'Pert Texture - анализ, расчет, визуализация ориентации кристаллитов в поликристаллических материалах, включая специальные 3D режимы графических отображения полюсных фигур и ориентации функции распределения;
  • X'Pert Epitaxy и X'Pert SmoothFit - для анализа полупроводников, эпитаксиальных пленок, кривых качания с использованием симуляции и автоматической подгонки измеренных кривых;
  • X'Pert Reflectivity - программа для анализа толщины кристаллических и аморфных пленок, оценка качества поверхности;
  • Easy SAXS - запатентованная программа анализа размерного распределения наноразмерных частиц и пор в объеме образца;
  • X'Pert Computed Tomography - программный модуль для обработки данных, полученных при сканировании обраца в трехмерном поле.

Любую дополнительную информацию мы предоставим по запросу.

Пожалуйста, свяжитесь с нами mailto: info@nalkho.com, тел./факс +7 495 739 5586

#920;-2

Здравствуйте!

Задайте Ваш вопрос сейчас и мы предоставим необходимую информацию по покупке интересующей Вас модели оборудования в самое ближайшее время.

Заполните, пожалуйста, форму:

Поле обязательно для заполнения
вида X (XXX) XXX-XX-XX
Поле обязательно для заполнения
не будет нигде опубликован
по оборудованию, цене, условиям поставки
Поле обязательно для заполнения


Поля со знаком (*) обязательны для заполнения